二次靶X荧光光谱仪Genius IF

超级X射线荧光光谱仪,拥有专利技术的广角几何加上8位二次靶及8款可订制滤光片,可准确测定微量和痕量元素,硅漂移 (SDD)探测器具有高能量分辨率和高计数率,能量分辨率低至123Ev.

二次靶X荧光光谱仪Genius IF

Genius IF是一款进口高端分析仪,用于科研、医药等领域。

 

技术参数:


测量元素范围

SDD系列:F(9)Fm(100)SDD LE 系列:C(6)Fm(100)

测量浓度范围

1ppm99.99%(不同元素,分析范围不同)

测量对象状态

粉末、固体、液体

元素分析能力

一次性可测从钠(Na)到铀(U)之间几十种元素

探测器

硅漂移探测器(SDD)或(SDD LE

X光管

Rh/Ag/Mo/W/Pd 可选

激发模式

直接激发和二次靶激发

二次靶技术

广角几何加上8位二次靶及8款可订制滤光片

最佳分辨率

125eV±5eV

X射线源

50kV,50W

分析精度

标准偏差≤0.1%(国标标样)

测试稳定性

室温条件下精确到0.05%-0.1%

自动进样器

8位(可选16位)

管滤光片

6款软件可选

单样品分析时间

分析时间可调

制冷方式

电制冷,无需任何耗材

测试环境

空气/真空/氦气

样品室尺寸

220×5500,H=125mm

外观尺寸

L×W×Hcm):55×55×32

工作电源

AC 220V240V50Hz

工作环境

室内温度 1535℃;相对湿度 ≤80% (不结露)

额定功率

800W

整机重量

50KG

电脑

Intergrated PC

软件

Microsoft WindowsOS 操作系统上运行的nEXt™分析包+基础基本参数.