XRF-CITE SDD合金分析仪
XRF-CITE SDD荧光光谱仪是一款高性价比分析仪器
XRF-CITE SDD荧光光谱仪
XRF-CITE是一款进口高端分析仪，用于合金、土壤等领域。
技术参数：
测量元素范围 | F(9)~Fm (100) |
测量浓度范围 | ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同） |
测量对象状态 | 粉末、固体、液体 |
元素分析能力 | 一次性可测从钠（Na）到铀（U）之间几十种元素 |
探测器 | SDD硅漂移探测器 |
X光管 | Rh-阳极标准 |
X光管靶材 | Mo靶（Rh,W,Ag,Cr可选） |
最佳分辨率 | 125eV±5eV |
X射线源 | 50kV,50W |
分析精度 | 标准偏差≤0.1%（国标标样） |
测试稳定性 | 室温条件下精确到0.05%-0.1% |
自动进样器 | 8位（可选16位） |
管滤光片 | 6款软件可选 |
单样品分析时间 | 分析时间可调 |
制冷方式 | 电制冷，无需任何耗材 |
测试环境 | 空气/真空/氦气 |
样品室尺寸 | 220×5500,H=125mm |
外观尺寸 | （L×W×H，cm）：55×55×32 |
工作电源 | AC 220V～240V、50Hz |
工作环境 | 室内温度 15～35℃；相对湿度 ≤80% （不结露） |
额定功率 | 800W |
整机重量 | 约50KG |
电脑 | Intergrated PC |
软件 | 在Microsoft Windows™ OS 操作系统上运行的nEXt™分析包+基础基本参数. |